隨著微電子技術的快速發(fā)展，現(xiàn)代電子產(chǎn)品對輕量化、小型化、低功耗以及高可靠性要求不斷提高，芯片封裝工藝技術和質(zhì)量面臨著更高標準的挑戰(zhàn)。金絲引線鍵合作為連接半導體芯片內(nèi)部電路與外部插件的常用工藝方法，因其工藝簡單、適用范圍廣泛等優(yōu)點，在器件生產(chǎn)過程中得到廣泛應用。

金絲可提供的拉力直接體現(xiàn)了引線鍵合質(zhì)量，其優(yōu)劣程度決定了紅外探測器在振動和低溫條件下能否正常工作?？茰蕼y控小編將系統(tǒng)介紹引線鍵合工藝原理、質(zhì)量控制標準，重點分析楔焊和金絲球鍵合參數(shù)對鍵合拉力的影響，并使用Alpha W260推拉力測試機進行檢測，為微電子封裝領域的質(zhì)量控制提供實用參考。

一、檢測原理

引線鍵合采用引線連接來實現(xiàn)探測器芯片與電學框架引出管腳的電氣聯(lián)通。連接過程涉及第一、第二焊點的固定，需要金絲在壓力和超聲能量的作用下相互接觸，使金絲與焊盤表面形成相互融合的合金，從而保證電信號的連接。

在鍵合過程中，由劈刀提供的超聲能量和熱能被傳遞給焊絲及焊盤。金絲吸收的能量為：

測試中的失效模式主要包括：

鍵合絲斷裂：斷裂發(fā)生在鍵合絲而非鍵合界面，表明鍵合強度高于絲材本身強度

界面剝離：鍵合點從基板或芯片表面分離，反映界面結(jié)合強度不足

金屬層剝離：基板金屬化層從基材上剝離，說明金屬層附著力存在問題

拉力測試值反映了鍵合工藝的穩(wěn)定性、界面冶金結(jié)合的質(zhì)量以及鍵合區(qū)域的微觀結(jié)構完整性。

二、檢測標準

GJB548B：行業(yè)標準對鍵合強度的zui低要求進行了規(guī)定：

直徑25μm Au絲：≥3.0gf

直徑50μm Au絲：≥5.0gf

直徑100μm Al絲：≥10.0gf

直徑300μm Al絲：≥30.0gf

MIL-STD-883 Method 2011.7：適用于金絲鍵合測試

JESD22-B116：電子器件工程聯(lián)合委員會(JEDEC)標準，用于評估鍵合強度

IPC/JEDEC J-STD-002C：針對可焊性和鍵合強度測試

ASTM F459-13(2018)：提供了測量微電子引線鍵合拉伸強度的標準試驗方法

非破壞性測試的拉力設定值為對應直徑鍵合引線密封前最小鍵合強度的80%。

三、檢測設備

1. Alpha W260推拉力測試機

Alpha W260推拉力測試機是專為半導體封裝、電子組裝等領域設計的高精度測試設備，適用于微電子引線鍵合后引線焊接強度測試、焊點與基板表面粘接力測試及其失效分析領域的專用動態(tài)測試儀器。

設備特點：

高精度測量：配備24Bit超高分辨率數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保測試數(shù)據(jù)的高精度和高重復性

多功能性：支持多種測試模式，包括晶片推力、金球推力、金線拉力以及剪切力測試等

自動化操作：X、Y軸自動工作臺設計，操作簡便，測試效率高

安全性強：每個工位設有獨立安全高度和限速，防止誤操作損壞測試針頭

多量程切換：可自動識別并更換不同量程的測試模組，適應不同產(chǎn)品的測試需求

輔助工具：

鉤針：根據(jù)鍵合絲直徑選擇合適鉤針（直徑≤51μm：拉鉤直徑≥2倍絲徑；51<直徑≤127μm：拉鉤直徑≥1.5倍絲徑；直徑>127μm：拉鉤直徑≥1倍絲徑）

常用工裝夾具：用于固定待測樣品

2. 其他檢測設備

顯微維氏硬度測試機：用于測試鍍金層的硬度，評估鍍金層的耐久性和穩(wěn)定性

光學顯微鏡：用于觀察鍵合點的形態(tài)，包括焊球的形狀、大小和表面狀況等

四、檢測流程

步驟一、試驗前準備

設備校準：每日使用前需進行力傳感器校準，確保測試精度

鉤針選擇：根據(jù)鍵合絲直徑選擇合適鉤針

參數(shù)設置：按照標準設置非破壞拉力值（最小鍵合強度的80%）

速度設置：控制拉鉤移動速度，使初始接觸沖擊力不超過設定值的20%

步驟二、標準化測試流程

樣品固定：將待測電路穩(wěn)固安裝在測試平臺上，避免移動

光學對位：使用顯微鏡定位待測鍵合絲，確保拉鉤與引線接觸點位于合適位置

拉力方向：調(diào)整拉鉤位置，使拉力方向與基板/芯片表面基本垂直

施加拉力：以恒定速度（通常為0.1mm/s或0.5mm/s）施加拉力至設定值，保持時間不超過1秒

結(jié)果判定：觀察鍵合點是否分離，記錄保持完好的合格樣品

步驟三、破壞性檢測流程

樣品制備：制備不同鍵合參數(shù)的測試樣品

拉力測試：使用Alpha W260測試機施加拉力，記錄最大拉力值和斷裂位置

失效模式分析：統(tǒng)計失效比例，通過掃描電鏡觀察典型失效斷口形貌

數(shù)據(jù)分析：計算不同參數(shù)組合下的平均拉力值，建立失效模式與工藝參數(shù)的對應關系

步驟四、鍵合參數(shù)優(yōu)化建議

根據(jù)研究結(jié)果，以下是針對不同鍵合方式的參數(shù)優(yōu)化建議：

楔形鍵合參數(shù)：

鍵合壓力：1.5±0.5

鍵合時間：1~3.5

超聲功率：1.4±0.1

球形鍵合參數(shù)：

鍵合壓力：2.5±0.5

鍵合時間：2~6

超聲功率：3.5±0.5

以上就是小編介紹的有關于楔焊和金絲球鍵合參數(shù)對鍵合拉力的影響的相關內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)韼椭Ｈ绻€對推拉力測試機怎么使用視頻和圖解，使用步驟及注意事項、作業(yè)指導書，原理、怎么校準和使用方法視頻，推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻，焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題感興趣，歡迎關注我們，也可以給我們私信和留言?！究茰蕼y控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領域應用中可能遇到的問題及解決方案。